iPhone 6 Plus存新质量问题 恐大规模召回
05.11.2014 15:54
本文来源: 新浪河南
iPhone 6 Plus存在质量上的问题,其会频繁死机,可能是使用的TLC NAND存储器控制IC的问题。
本身供应就不多iPhone 6 Plus接连爆出问题,这次又有新的事情发生。
台媒、韩国给出的最新报道称,iPhone 6 Plus存在质量上的问题,其会频繁死机,可能是使用的TLC NAND存储器控制IC的问题。
报道中强调,苹果为了节省成本,使用了TLC NAND存储器控制,虽然存容量更多,但是读取/写入的速度比较慢。
之前已经有不少果粉在苹果的官方论坛表示,自己的iPhone 6 Plus送修多次,最夸张的一位送修了4次依然没有解决问题。业内人士指出,这很可能是iPhone内部NAND Flash控制的IC品质瑕疵所导致。
如果这是真的,那么苹果或将因此宣布大规模召回。
本文来源: 新浪河南
05.11.2014 15:54
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